一、仪器简介
DP8300L 荧光光谱仪由德谱仪器推出,专为应对欧盟、北美 RoHS 环保指令、无卤素管控开发,具备优秀的检出下限与分析精度。可检测 RoHS 管控重金属,同时完成溴、氯无卤素元素及金属镀层分析;适配有色金属、连接器、端子、印刷、玩具、服饰、医疗设备、PCB、半导体、电镀、汽车、鞋材皮革等多行业样品检测工作。
环境温度:15‑30℃,最佳工作温度 20±5℃,避免阳光直射仪器机身。
环境湿度:相对湿度≤70%,潮湿季节建议配备除湿设备,防止电路板、探测器受潮损坏。
供电要求:配置稳压净化电源,电压稳定,接地可靠;禁止和大功率设备共用插排。
摆放位置:仪器水平放置,四周预留散热空间;远离震动源、腐蚀性气体;仪器台面禁止放置水杯、试剂、重物,防止液体渗入设备内部。
辐射防护:设备具备 X 射线安全联锁,严禁拆除舱门联锁保护装置。
确认样品舱内部无遗留样品、碎屑杂物,样品舱门闭合。
接通主机电源,打开仪器主机电源开关,主机指示灯点亮,仪器硬件开始自检。
开启配套电脑,启动 DP8300L 分析软件,等待软件与主机通讯连接成功。
仪器预热:开机完成后充分预热,保证 X 光管、探测器达到稳定工作状态,方可开展正式样品测试;长时间待机后再检测,需要重新执行仪器初始化校准。
质控核查:每次开机后,使用配套标准质控样品进行验证,确认仪器状态正常,元素响应无明显漂移,再进行样品检测。
样品制备直接影响检测结果,不同形态样品处理要求如下:
待测表面必须平整,覆盖仪器测试窗口;清除表面油污、灰尘、喷漆镀层、氧化层。
样品厚度需要满足 XRF 测试最小厚度要求;薄样品可多层叠加,保证基体厚度。
细小零件:使用专用样品垫片固定,确保测试区域对准光斑,防止射线泄露,避免样品掉落仪器内部。
样品充分研磨均匀,可采用压片法压制成致密平整样片;松散粉末装入专用样品杯,更换全新的样品支撑薄膜,排除气泡,保证薄膜平整无破损。
粉末不可直接倒入样品舱,防止粉尘落入损伤探测器窗口。
样品平铺无褶皱,保证测试面正对检测窗口;薄膜过薄可增加衬底,减少背景干扰。
注意:尖锐样品轻拿轻放,严禁刮擦仪器内部测试窗口薄膜,窗口损坏会直接造成检测故障。
在软件界面录入样品信息:样品编号、材质类型、供应商、批次等基础信息。
根据样品类型选择对应的分析方法:RoHS 塑胶模式、金属模式、无卤素检测模式等。
将制备完成的样品平稳放置样品台,使待测区域对准测试光斑,关闭样品舱防护门,确认联锁闭合到位。
设置合适的测试时间,轻元素(氯、溴等卤素)检测可适当延长测试时间,提升检测精度。
点击软件【开始测量】启动检测;测试过程中严禁打开样品舱门,禁止触碰仪器。
测试结束,软件自动识别元素种类,输出铅、汞、镉、铬、溴、氯、砷、锑、硒、钡等元素含量结果。
对结果存疑样品,更换测试点位重复检测 2‑3 次,综合判断样品是否合规。
检测完成后,可查看光谱谱图、各元素含量数值,对照 RoHS、无卤素限值做合格 / 不合格判定。
支持保存检测记录,导出 Excel 报表,也可直接打印标准化检测报告;报告包含仪器型号、样品信息、检测时间、元素结果、判定结论。
定期备份全部测试数据,避免电脑故障造成历史数据丢失。
全部样品检测完毕,取出样品舱内样品,清理样品舱内粉尘碎屑。
在软件界面关闭 X 光管高压,等待仪器内部散热冷却数分钟。
退出分析软件,关闭计算机;之后关闭仪器主机电源开关。
若长期停机(节假日、超过 7 天不使用),切断仪器总电源,盖上防尘罩,做好防潮防护。
提示:短时间间歇测试无需反复开关机,减少 X 光管频繁启停损耗。
每日使用后:清理样品舱,使用洗耳球吹除粉末碎屑;软无尘布擦拭仪器外壳;禁止使用强酸碱溶剂擦拭仪器。
每周维护:检查电源线、通讯线连接;核查标准质控样,确认仪器检测稳定性;备份检测数据库。
每月维护:检查仪器散热风扇运行是否正常,通风口无灰尘堵塞;探测器窗口禁止硬物触碰,如需深度清洁,联系厂家工程师处理,用户不可自行拆解窗口部件。
严禁自行拆卸仪器外壳、X 光管、探测器;出现硬件报警,立即停机断电,联系德谱技术支持。
仪器内置 X 射线管,舱门联锁装置不可短接、拆除;仪器舱门开启状态不会发射 X 射线,但必须保证联锁完好。
液体样品必须使用密封样品杯,禁止液体直接接触仪器内部,液体泼洒进仪器,立刻断电并联系厂家。
不要频繁开关机,雷电天气切断仪器电源,避免雷击损坏设备。
操作人员需熟悉设备操作规程,非授权人员禁止操作本仪器。