关键词搜索: ROHS检测仪,卤素测试仪,x射线荧光光谱仪,重金属检测仪,镀层膜厚分析仪,手持合金分析仪,手持矿石分析仪,手持土壤分析仪,ROHS2.0分析仪,rohs十项检测仪,邻苯检测仪,色谱仪,光谱仪

你的位置:首页 > 技术文章 > 影响镀层测厚仪测试的11种因素

技术文章

影响镀层测厚仪测试的11种因素

技术文章
  影响镀层测厚仪测试的11种因素
  镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
  影响镀层测厚仪测试的因素有以下几点:
  1、基体金属磁性质:磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
  2、基体金属电性质:基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
  3、基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、边缘效应:镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
  5、曲率:试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
  6、试件的变形:测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
  7、表面粗糙度:基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。
  8、磁场:周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
  9、附着物质:镀层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
  10、测头压力:测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
  11、测头的取向:测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
在线咨询
电话咨询
13751165856
关注微信
返回顶部
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站