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X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)

简要描述:X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)Thick800D:是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

  • 产品型号:Thick800D
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-11-26
  • 访  问  量:2731

产品介绍

 

X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
一次可同时分析zui多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm99.9%
镀层厚度一般在50μm以内每种材料有所不同
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为1530
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
重量:80 kG

 

标准配置:
高低压电源(美国Spellman进口
大功率X光管(英国Oxford牛津进口)
电制冷半导体探测器(美国AMPTEK进口
多道分析器(美国进口
控制电路
高压单元
移动样品台
高清晰CCD
准直器:含Ф8.0mmФ6.0mmФ2.0mmФ1.0mmФ0.5mmФ0.2mm各一个
滤光片:5组滤光片
计算机:品牌商务电脑(内存2G、硬盘200G),17寸液晶显示器
打印机:彩色喷墨打印机

 

应用范围:

RoHS检测分析
地矿与合金铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测

 

 

 

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