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镀层测厚仪--镀层测厚仪

简要描述:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

  • 产品型号:TX-200
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-11-26
  • 访  问  量:1920

产品介绍

镀层测厚仪--镀层测厚仪
型号:
TX-200
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
一次可同时分析zui多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm99.9%
镀层厚度一般在50μm以内每种材料有所不同
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为1530
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

镀层测厚仪--镀层测厚仪技术指标

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

 

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